Ю. А. Новиков, П. А. Тодуа
- N8, 2005, ПГУ им. С. Торайгырова
Мир измерений Метрология линейных измерений нанометрового диапазона - основа микроэлектроники и нанотехнологии:Мир измерений // Мир измерений, - N8, 2005

   1. Метрология



Заказать электронный вариант

Преподаватель
Студент

Логин
Пароль
E-mail
СтраницыС по